Analyseur d’alliage XRF portatif

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Dernière mise à jour: 2021-12-18 15:10
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Détails du produit

Analyseur d’alliage XRF portatif H500

Tout simplement le meilleur

Le métal forme un matériau essentiel dans la fabrication moderne, les produits métalliques étant utilisés partout.

L’utilisation d’ED-XRF permet de mesurer un large éventail d’éléments et de concentrations - Na(11)-U(92) - sans avoir besoin de préparations d’échantillons (chauffage ou destruction de l’échantillon). Les échantillons peuvent être mesurés sous forme de poudres lâches ou pressés dans des granulés et prêts à être mesurés en quelques secondes.

ED-XRF peut mesurer des volumes d’échantillons plus importants, ce qui permet une meilleure caractérisation des produits finis et offre une grande précision et précision avec d’excellentes limites de détection (0,1 à 1 mg/kg).


La spectroscopie par fluorescence des rayons X dispersives énergétiques (ED-XRF) est l’une des méthodes d’analyse les plus simples, les plus précises et les plus économiques pour déterminer la composition chimique de divers produits finaux ou intermédiaires dans l’industrie des métaux. ED-XRF joue un rôle dominant dans le contrôle de la qualité des différents procédés de l’industrie métallurgique. L’analyse élémentaire non destructive peut être effectuée à chaque étape du processus, des orteils aux alliages finis.


Contexte et introduction

L’analyseur portatif de fluorescence aux rayons X (XRF), parfois appelé pistolet XRF portatif, est utilisé pour analyser la composition chimique des matériaux. L’illumination par rayons X provoque la fluoration de chaque élément à une longueur d’onde caractéristique. Esi H-500 Alloys & Metals Handheld XRF Analyzers fournissent une chimie des matériaux très spécifique pour identifier rapidement et avec précision les qualités en alliage et les métaux purs. Identification de la chimie des alliages et de l’identification de qualité en quelques secondes, du simple tri aux séparations de grade difficiles, de l’inspection des matériaux entrants à la vérification du produit final.


Spécifications techniques

Méthode analytique

Fluorescence des rayons X dispersive d’énergie

PDA avec écran tactile

Processeur: 1G, Mémoire système: 1G, standard 4G données de stockage de masse, support maximum stocké étendu jusqu’à 32G, Grand écran tactile LCD, résolution 1820x720

Analyse intelligente

Mode de test de sélection automatique basé sur la matrice de l’échantillon

Source d’excitation

50KV/200μA – Fenêtre d’extrémité Ag/Rh intégrée tube à rayons X miniature et alimentation à haute tension

Collimateur & Filtre

Collimateur et filtres multiples avec fonctions de commutation automatiques

Détecteur

Détecteur de dérive de silicium (DDD)

Résolution du détecteur

Jusqu’à 125eV

États échantillonnés

Solides, liquides, poudres

Gamme élémentaire

Nombres atomiques entre 12 (Mg) et 92 (U)

Limite de détection

1 – 500ppm, selon l’élément et la matrice d’échantillon

Temps d’analyse

3-60 secondes

Analyse simultanée

Affiche jusqu’à 40 éléments à la fois

Plage d’affichage

ppm - 99,99%

Système de vue d’échantillon

Caméra intégrée haute résolution

Connectivité

USB, GPS, Wi-Fi ou Bluetooth

Sécurité

Arrêt automatique du tube à rayons X, cadre d’instrument doublé de Pb, niveaux de rayonnement dans les normes internationales de sécurité

Alimentation

La batterie Li rechargeable, standard 9000mAh, fournit jusqu’à 12 heures de fonctionnement sur une seule charge; Adaptateur universel 110/220V pour la charge

Température

-20ºC à +50ºC

Humidité

≤90%

Poids

1,75 kg


Applications typiques:

Identification rapide des matériaux positifs non destructifs (PMI)

Tri et vérification de la ferraille

Vérification de la qualité de l’alliage

Essais d’or : Pureté, Carat (Karat), Or en alliages

Alliages aérospatiaux QA/QC

Composition des alliages dentaires


Performance d’essai de l’acier inoxydable-316

Modèle d’instrument : Analyseur XRF portatif H-500

Échantillon:

Acier inoxydable 316

Temps d’essai:

30 secondes



Non. de Reading

Courbe d’étalonnage

Cr %

Mn %

Fe %

Ni %

Cu %

Mo %

1

Acier en alliage élevé

16.648

0.878

69.346

10.121

0.309

1.987

2

Acier en alliage élevé

16.688

0.849

69.356

10.100

0.325

1.983

3

Acier en alliage élevé

16.642

0.872

69.435

10.061

0.315

1.991

4

Acier en alliage élevé

16.679

0.918

69.276

10.102

0.311

1.975

5

Acier en alliage élevé

16.611

0.899

69.266

10.196

0.305

1.984

6

Acier en alliage élevé

16.652

0.888

69.422

10.021

0.304

1.996

7

Acier en alliage élevé

16.722

0.865

69.305

10.098

0.318

1.975

8

Acier en alliage élevé

16.702

0.836

69.438

10.037

0.313

1.988

9

Acier en alliage élevé

16.629

0.876

69.382

10.076

0.312

1.963

10

Acier en alliage élevé

16.642

0.864

69.388

10.117

0.302

1.974

Gammes

0.111

0.082

0.172

0.175

0.023

0.032

Moyenne

16.662

0.874

69.361

10.093

0.311

1.982

Déviation type Sn

0.0349

0.0236

0.0633

0.0492

0.0071

0.0096

Rsd

0.209%

2.694%

0.091%

0.488%

2.276%

0.486%


Performances d’essai de la précision SS304 avec H500 :

Précision de mesure de 10 secondes des principaux éléments en acier inoxydable 304


Cr

Mn Mn

Ni Ni Ni

Cu

Mo Mo

Moyenne

18.232

0.926

8.072

1.236

0.288

Valeur certifiée

17.940

0.980

8.180

1.230

0.298

Écart

0.072

0.055

0.086

0.043

0.008

DSR (%)

0.395

5.936

1.067

3.506

2.693

Précision (%)

98.370

94.486

98.681

99.510

96.574


Ce qui suit est spectre de normes en acier inoxydable avec une teneur en Ni de seulement 0,108%.


Qu’est-ce que la fluorescence aux rayons X?


Lorsque la radiographie d’excitation primaire émise par le tube à rayons X entre en collision avec un échantillon, elle est dispersée par rayons X absorbés par un atome ou pénétrés par la substance. L’effet photoélectrique se réfère à un processus où les rayons X transfèrent toute l’énergie à la partie la plus profonde et absorbés par un atome. Dans ce processus, si la radiographie primaire a assez d’énergie, l’électron va sortir de l’intérieur pour créer de l’espace. Cet espace vide se réfère à l’instabilité de l’atome.
Atom essaie toujours de revenir à l’état stable; ainsi, l’électron externe se transférera vers le côté intérieur et dans ce processus, une énergie spécifique de rayon X est émise. Chaque atome a la série de niveau d’énergie pour émettre la radiographie spécifique.
Cette émission de rayons X est appelée « fluorescence des rayons X » et la composition de l’atome dans un échantillon à l’aide de cette propriété peut être mesurée au moyen d’un test non destructeur.


Adaptable - Satisfaisant

Identifier les besoins du marché, offrir des conseils et des services à nos clients, collaborer avec eux pour établir des relations stables à long terme, qui nous permettent de devenir leur partenaire.


Innovante

Intégrer de nouveaux produits et services dans notre portefeuille, ainsi que l’application des dernières ressources technologiques avancées pertinentes à notre secteur et à nos domaines d’activité.


Durable et rentable

Obtenir un retour sur investissement adéquat pour nos partenaires, tout en s’efforçant de garantir un développement durable à long terme de notre entreprise, qui nous permet de conserver notre indépendance financière.


http://fr.esi-xrf.com/

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